- N +

半导体集成电路采样保持器检测

检测报告模板

检测报告图片

检测报告图片模板

半导体集成电路采样保持器检测

检测项目及执行标准一览表

序号 检测标准 检测对象 检测项目
1 《半导体集成电路 采样/保持放大器测试方法的基本原理》 GB/T 14115-1993 /4.2 半导体集成电路采样保持器 增益误差
2 《半导体集成电路 采样/保持放大器测试方法的基本原理》 GB/T 14115-1993 /4.8 半导体集成电路采样保持器 采样-保持失调电压

检测时间周期

一般3-10天出报告,有的项目1天出报告,具体根据半导体集成电路采样保持器检测项目而定。

检测报告有效期

一般半导体集成电路采样保持器检测报告上会标注实验室收到样品的时间、出具报告的时间。检测报告上不会标注有效期。

检测流程步骤

1、电话沟通、确认需求;

2、推荐方案、确认报价;

3、邮寄样品、安排检测;

4、进度跟踪、结果反馈;

5、出具报告、售后服务;

6、如需加急、优先处理;

检测流程步骤

温馨提示:以上关于《半导体集成电路采样保持器检测》内容仅为部分列举供参考使用,百检网汇集众多CNAS、CMA、CAL等资质的检测机构遍布全国,更多检测需求请咨询客服。

返回列表
上一篇:变压器/变压器检测
下一篇:半导体集成电路TTL电路检测